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J-RAS代理離子遷移試驗(yàn)裝置 CAF測試，ECM-100是可以單獨(dú)試驗(yàn)的ALL-IN-ONE檢測系統(tǒng)，并且重要的試驗(yàn)數(shù)據(jù)被保存到CF存儲(chǔ)卡。作為系統(tǒng)構(gòu)成我們準(zhǔn)備了40CH/100CH型，可以根據(jù)您的預(yù)算、設(shè)置空間來進(jìn)行選擇。

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。日本J-RAS絕緣劣化試驗(yàn)

導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

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