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離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估

簡要描述：離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。

  • 更新時間：2024-05-14
  • 訪  問  量：1054
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 產(chǎn)品型號：HVUα_1000V
品牌其他品牌產(chǎn)地進(jìn)口
加工定制是

離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估

產(chǎn)品特點

  • 通過100n秒以下的高速事件測量功能檢測部分放電（也可以與電阻值數(shù)據(jù)同時測量）

  • CH個別電源搭載&CH個別反饋對各樣品施加穩(wěn)定的電壓

  • 搭載CH個別電源&CH個別控制可對所有CH設(shè)定不同的施加電壓

  • 因為沒有機械式繼電器的掃描，所以連續(xù)試驗中*和故障

  • 短路檢測電路的CH個別搭載也追隨瞬間的樣品短路

  • 通過三軸電纜的主動保護實現(xiàn)低噪聲測量（測量側(cè)）

  • 通過專用軟件可以顯示圖表和收錄數(shù)據(jù)

  • 可按需配置5個通道

用途

高電壓器件的絕緣可靠性評價、功率模塊的連續(xù)耐壓評價、印刷電路板的耐遷移性能評價、其他高電壓部件的絕緣可靠性評價。

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対応OS：WindowsXp、7、8、10

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